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較常用的光譜儀(薄膜)樣品杯SC-3345

簡要描述:為了對樣品杯與XRF儀器提供的樣品夾持設(shè)備(金屬樣本杯、旋轉(zhuǎn)盤、滑動平臺、固定臺等)進行匹配,購買樣品杯前請告知您使用過的樣品杯型號(CAT. NO),或X熒光光譜儀品牌和型號,或請直接測量儀器樣品夾持設(shè)備的內(nèi)徑、高度和孔徑。較常用的光譜儀(薄膜)樣品杯SC-3345

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-05-15
  • 訪  問  量:863

詳細介紹

XRF樣品測試杯規(guī)格、射線熒光樣品器、土壤樣品杯、美國Premier樣品杯SC-3345

      

一、美國Premier XRF樣品杯:

  美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域,以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽。

  Premier XRF樣品杯能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRFWD-XRF、ED-XRF)。

  

     為了對樣品杯與XRF儀器提供的樣品夾持設(shè)備(金屬樣本杯、旋轉(zhuǎn)盤、滑動平臺、固定臺等)進行匹配,購買樣品杯前請告知您使用過的樣品杯型號(CAT. NO),或X熒光光譜儀品牌和型號,或請直接測量儀器樣品夾持設(shè)備的內(nèi)徑、高度和孔徑。

  

品名:XRF樣品杯Sample Cups

      型號: CAT. NO SC-3345

      品牌:美國Premier Lab (*)

      貨期:現(xiàn)貨

      起訂量:1包以上(100/包)。

 

 

二、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARLAsoma、Kevex、MetorexSiemens、Spectrace、Philips、Fisons。

 

 

美國Premier樣品杯SC-3345  

 

CAT. NO             內(nèi)徑       外徑    容積    數(shù)量

SC-3345       40mm    37mm     45mm     40mL     100/

 

 

 

 

常用的光譜儀(薄膜)樣品杯SC-3345

常用的光譜儀(薄膜)樣品杯SC-3345

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