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簡要描述:為了對樣品杯與XRF儀器提供的樣品夾持設(shè)備(金屬樣本杯、旋轉(zhuǎn)盤、滑動平臺、固定臺等)進行匹配,購買樣品杯前請告知您使用過的樣品杯型號(CAT. NO),或X熒光光譜儀品牌和型號,或請直接測量儀器樣品夾持設(shè)備的內(nèi)徑、高度和孔徑。較常用的光譜儀(薄膜)樣品杯SC-3345
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XRF樣品測試杯規(guī)格、射線熒光樣品器、土壤樣品杯、美國Premier樣品杯SC-3345
一、美國Premier XRF樣品杯:
美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域,以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽。
Premier XRF樣品杯能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。
為了對樣品杯與XRF儀器提供的樣品夾持設(shè)備(金屬樣本杯、旋轉(zhuǎn)盤、滑動平臺、固定臺等)進行匹配,購買樣品杯前請告知您使用過的樣品杯型號(CAT. NO),或X熒光光譜儀品牌和型號,或請直接測量儀器樣品夾持設(shè)備的內(nèi)徑、高度和孔徑。
品名:XRF樣品杯Sample Cups
型號: CAT. NO SC-3345
品牌:美國Premier Lab (*)
貨期:現(xiàn)貨
起訂量:1包以上(100個/包)。
二、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF:
日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。
美國Premier樣品杯SC-3345
CAT. NO 高 內(nèi)徑 外徑 容積 數(shù)量
SC-3345 40mm 37mm 45mm 40mL 100個/包
常用的光譜儀(薄膜)樣品杯SC-3345
常用的光譜儀(薄膜)樣品杯SC-3345
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